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高性能X射線熒光測試儀 |
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| 型 號：XDV -SDD |
| 品 牌：德國菲希爾Fischer |
| 技術指標：可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素 |
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普洱高性能X射線熒光測試儀-XDV -SDD-德國菲希爾Fischer
高性能X射線熒光測試儀，涂層測厚儀原理，配有可編程XY平臺和Z軸，電子涂層測厚儀，可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素
儀器特點
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高級型號儀器，一體式涂層測厚儀，具有常見的所有功能
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射線激發(fā)量的靈活性最大，分體式涂層測厚儀，激發(fā)量可根據(jù)測量面積大小和光譜組成而改變
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通過硅漂移探測器，儀器儀表類，在 > 10萬cps（每秒計數(shù)率） 的超高信號量下也可以正常工作，鐵基涂層測厚儀，而不會出現(xiàn)能量分辨率的降低
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極低的檢測下限和出色的測量重復度
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帶有快速、可編程 XY 工作臺的自動測量儀器
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大容量便于操作的測量艙
典型應用領域
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測量極薄的鍍層，牛津涂層測厚儀，例如應用于電子和半導體行業(yè)中
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痕量分析，涂層測厚儀器，例如根據(jù) RoHS、玩具標準、包裝標準對有害物質進行檢測
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進行高精度的黃金和貴金屬分析
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光伏產(chǎn)業(yè)
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測量 NiP 鍍層的厚度和成分
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