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技術文章
  • 麗江X 射線熒光測試儀 XDV -μ
  • 分析儀器介紹
  • pH計好壞的檢驗和使用維護要點
  • 測振儀在供水企業(yè)機泵大修理管理上的應用
  • 采用導通角技術的低功耗、低成本脫機高壓電源開關穩(wěn)壓器
  • 兩種常用的顯微鏡觀察方法
  • 涂覆層測厚儀的測量原理與儀器介紹
  • 變頻調速器的常見故障及維修對策
  • 涂層測厚儀的劃分
  • Fluke萬用表在汽車維修中的應用(一)
  • 當前位置:首頁 > 麗江儀器儀表 > 麗江無損檢測儀器 > 麗江涂層測厚儀
    X 射線熒光測試儀
    型 號:XDV -μ
    品 牌:德國菲希爾Fischer
    技術指標:可以對100μm或更小的結構進行分析
    麗江X 射線熒光測試儀-XDV -μ-德國菲希爾Fischer

    X 射線熒光測試儀,進口測厚儀,配有多毛細孔 X 射線光學系統(tǒng),覆層測厚儀,可自動測量和分析微小部件及結構上鍍層厚度和成分。


    XDV-u鍍層厚度測量儀特點

    • 優(yōu)化的微區(qū)分析測試儀器
    • 根據(jù)X射線光學系統(tǒng),鍍鋅涂層測厚儀,可以對100 μm或更小的結構進行分析
    • 極高的能量強度,涂層測膜儀,從而實現(xiàn)出色的精度
    • 即使對于薄鍍層,熒光涂層測厚儀,測量的不確定度也有可能做到 < 1 nm
    • 只適用于平面的或是接近平面的樣品
    • 底部C型開槽的大容量測量艙
    • 通過快速、可編程的 XY 工作臺進行自動測量

    XDV-u鍍層厚度測量儀典型應用領域

    • 測量印刷線路板、引線框架和芯片上的鍍層系統(tǒng)
    • 測量細小部件和細電線上的鍍層系統(tǒng)
    • 分析微小結構和微小部件的材料成分


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