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    X射線熒光測試儀
    型 號:XDLM
    品 牌:德國菲希爾Fischer
    技術(shù)指標(biāo):適用于遠(yuǎn)距離測量(DCM方法,范圍0-80 mm)
    樂山X射線熒光測試儀-XDLM-德國菲希爾Fischer

    X射線熒光測試儀,fisher涂層測厚儀,可在微小樣品上,elcometer涂層測厚儀,手動或全自動測量印刷線路板、電子元件和大規(guī)模生產(chǎn)零部件上的鍍層厚度。包括鎳層測厚、化鎳厚度等。


    XDLM鍍層厚度測量儀特點

    • 通用性極廣,上海涂層測厚儀,因為配備了微聚焦管、4個可切換準(zhǔn)直器和 3 個基本濾片
    • 適用于微小結(jié)構(gòu),南昌涂層測厚儀,如接插件或線路板
    • 還適用于遠(yuǎn)距離測量(DCM方法,費舍爾涂層測厚儀,范圍0-80 mm)
    • 底部C型開槽的大容量測量艙
    • 可編程的臺式設(shè)備,鍍層涂層測厚儀,用于自動測量 

    XDLM鍍層厚度測量儀典型應(yīng)用領(lǐng)域

    •  測量印刷線路板工業(yè)中,菲希爾mpo涂層測厚儀,薄金、鈀和鎳鍍層。鎳層測厚、化鎳厚度
    • 測量接插件鍍層和觸點鍍層。
    • 在電子和半導(dǎo)體行業(yè)中測量功能性鍍層。
    • 黃金、珠寶和鐘表工業(yè)。


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