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X射線熒光測試儀 |
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型 號:XDLM |
品 牌:德國菲希爾Fischer |
技術(shù)指標(biāo):適用于遠(yuǎn)距離測量(DCM方法,范圍0-80 mm) |
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保山X射線熒光測試儀-XDLM-德國菲希爾Fischer
X射線熒光測試儀,德國菲希爾dualscope mpo涂層測厚儀,可在微小樣品上,涂層測厚儀 德國,手動或全自動測量印刷線路板、電子元件和大規(guī)模生產(chǎn)零部件上的鍍層厚度。包括鎳層測厚、化鎳厚度等。
XDLM鍍層厚度測量儀特點
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通用性極廣,成都涂層測厚儀,因為配備了微聚焦管、4個可切換準(zhǔn)直器和 3 個基本濾片
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適用于微小結(jié)構(gòu),防腐涂層測厚儀,如接插件或線路板
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還適用于遠(yuǎn)距離測量(DCM方法,噴涂層測厚儀,范圍0-80 mm)
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底部C型開槽的大容量測量艙
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可編程的臺式設(shè)備,x熒光涂層測厚儀,用于自動測量
XDLM鍍層厚度測量儀典型應(yīng)用領(lǐng)域
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測量印刷線路板工業(yè)中,d3涂層測厚儀,薄金、鈀和鎳鍍層。鎳層測厚、化鎳厚度
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在電子和半導(dǎo)體行業(yè)中測量功能性鍍層。
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