1898年11月8日倫琴發(fā)現(xiàn)了X射線從此無損檢測技術開始發(fā)生了質的變革。它使固體內部的缺陷得以直觀地顯現(xiàn)出來。X射線是一束光子流。在真空中它以光速直線傳播本身不帶電故不受電磁場的影響。具有波粒二象性。從物理學中我們知道凡具有加速度的帶電粒子都會產生電磁輻射。因此當電子在高壓電場的作用下高速運動時突然撞擊到靶面（會產生很大的負加速度）從而形成了所謂的韌致輻射。簡單地說它是由高速運動的電子撞擊靶面而產生的。另一方面當電子的動能足夠大時將會把靶面原子的內層電子轟擊出來在原位置形成孔穴而此刻外層的電子（位于高能級）產生躍遷以填補該孔穴。同時它將多余的能量以X射線的形式放出形成所謂的標識X射線。標識射線的波長是不連續(xù)的。它取決于靶面的材料。它通常用于對材料的化學成分進行定性分析。在無損檢測探傷中一般用前者。
X射線具有很強的穿透能力。在媒體的界面它的折射率很小幾乎為1。從而使我們可以按幾何方式來計算成像的比例。
由韌致輻射產生的X射線具有連續(xù)譜線。它的波長取決于電場的電壓和場內的電子流。其強度表示為：
I=
其中K----系數(shù)；i------管電流； U-----管電壓；Z-----靶的原子序數(shù)。 
穿透物體后射線的強度為：I1=Io X exp(-ud)射線入射強度減弱一半的吸收物質厚度稱為半價層。　
寬容度（L）指膠片有效密度范圍對應的曝光范圍。在膠片特性曲線上就用接近
在線部分的起點和終點在橫坐標上相對應的曝光量對數(shù)表示顯然梯度大的膠片其寬容度必然小�！�
線型象質計應放在射線源一側的工件表面上被檢焊縫區(qū)一端（被檢區(qū)長度的l／4部位）。金屬絲應橫跨焊縫并與焊縫方向垂直鋼絲置于外側。當射線源一側無法放置象質計時也可放在膠片一側的工件表面上但象質指數(shù)應提高一級或通過對比試驗使實際象質指數(shù)達到規(guī)定的要求。象質計放在膠片一側工件表面上時應附加“F”標記以示區(qū)別。中心透照環(huán)焊縫時每隔如”放置一個象質計。多個管子接頭在一張底片上同時顯示時至少應放一個象質計且置于最邊緣的那根管子上。
象質計的線徑d與線號《象質指數(shù)》之間的關系：
d＝ dez＝ 6－10lgd
金屬絲象質計的相對靈敏度： S = A X 10O％如一底片上可識別的最小線徑照厚度。
射線照相對比度公式： 
射線照相對比度（底片對比度）D是主因對比度tri和膠片對比度r共同作用
工件表面距離Q－I件表面至膠片距離。
為保證射線照相的清晰度標準對透照距離的最J前防限制：
象質等級透照距離（焦點至工件表面距離）入K值
為了評價X射線在膠片上的成像質量人們通常用像質計作為檢測標準。線型像質計的擺放應在射線源一邊。靈敏度的計算為：m=di/DpX100%
射線照相影響質量的基本因素有：①黑度
黑度與照相靈敏度 S三大要素（照相對比度面D不清晰度U和顆粒度Gr）的關系。
照相對比度 照相不清晰度Unmu 照相顆粒度r膠片種類V顯影
膠片固有不清晰度產生的主要原因：由于照射到膠片上的射線在乳劑層科
發(fā)出的電子的散射而產生的。固有不清晰主發(fā)取決于射線的能過其次取決于膠片路和顯影條件。
射線底片上細節(jié)影象的可識別性與圖象的大小、膠片的粘度、底片黑皮、觀
條件及觀片者等因素有關。底片黑度增大時4hat增大膠片的粒度越小
散射線是射線與物質作用產生。物質的厚度越大，射線的照射面積越大試件內部產生散射線越大n值越大底片對比度D便減小。凡是被射線照射到的物體例如試件、暗袋、桌面、墻壁、地面甚至空氣都成為散射源。其中最大的散射源往往是試件本身。要想完全排除散射線的影響是不可能的只能在實際透照過程中根據(jù)具體情況加以限制一般可采取下列措施：
①限制輻射場：將輻射場縮小到所進行的射線透照工作所必需的程度可以有效地限散射線的控制措施：選擇合適的射線能量使用鋁箔增感屏其次還有：①背防護板；②錯罩和光柵；③厚度）悄物；④濾板；⑤遮蔽物；③修磨試件。
一次透照范圍內試件的最大厚度與最小厚度之比民＞ 1.4屬于大厚度比工件即變截面工件對射線照相質量的不利影響主要表現(xiàn)在兩個方面：①因厚度差較大導致底片黑度差較大而底片黑度過低或過高都會影響用相靈敏度；②厚度變化導致散射I增大產生邊蝕效應。為此可采用特殊技術措施；適當提高管電壓技術雙膠片技術補償技術。適當提高管電壓技術是透照變截工件最常采用的也是最簡便的方法�？色@得更；m－n
在X射線照相中在能穿透工件的前提下盡可能選擇較低管電壓，電鍍層測厚儀從而得到較大的衰減系數(shù)和較小的散射比即14rtl值盡可能大以便提高射線照相靈敏度。
①一般說來射線源都有一定的幾何尺寸當缺陷尺寸比焦點尺寸d大得多時焦點對透照底片對比度D的影響可忽略不計。
②當缺陷尺寸f（小于焦點尺寸）時就會出現(xiàn)由焦點尺寸f引起的透照幾何條件的影響此時底片對對比度必須進行修正。
③當金屬絲（缺陷）直徑d減少時會使d’用變大（d＞1）形狀修正系數(shù)。急劇減小。因此要考慮修正系數(shù)。對凸D的影響。。當d’大時金屬絲的“幾何因素修正系數(shù)�！彪S幾何間距與金屬絲直徑比值d’用的急劇增大而減小。對細小缺陷（或細金屬絲）來說由于的較小D也較少所以在底片上較難識辯其影象。
問題：
A：正在工作的一臺X射線機窗口的輻射場內的射線劑量率為40R／min·M無遮擋不計空氣吸收和散射線的情況下距焦點 20米處的射線照射劑量率為多少 R／min？以19ImR為射線工作人員一天的安全劑量限度距焦點20米處一分鐘內的射線劑量是安全劑量的多少倍？在該處停留的時間為多少秒下才能保證不超過射線工作人員一天的安全劑量？（兩位有效數(shù)字）。
解：
①P1＝40R／minR1=1MR2＝20M由距離平方反比公式：P1：P2 = （R2：R1）2
得：P2=0.1（R/min）
2：100/19 = 5.3
3：t = 19/100/60 = 11.4秒
B：對某射線源鉛的半價層為lmm若采用鉛做防護層已知該防護層兩側射線劑量率分別為3.62R/h及10mR/h求此防護層的厚度？
解：D=0.693/u （D半價層）得：u = 0.693mm-1
I = I0 X e-ud d = Ln（3620/10）/ 0.693 = 8.5mm
C：有一混凝土防護墻的探傷室裝一臺Ir192 r射線機經測試操作室內最大劑量率為0.066Rem/h，要使劑量率降至2.1mRem/h求還需加襯多少mm厚的鉛板（u=1.386cm-1）？
解： P = P0 X e-ud 得：d = Ln（P0/P）/ u = Ln（66/2.1）/ 0.1386 = 25mm
X射線數(shù)字成像概述：
實時成像系統(tǒng)及工業(yè)CT
數(shù)字射線照相系統(tǒng)是在普通的工業(yè)電視系統(tǒng)上增加了計算機圖象處理的結果。
通常它由如下部分組成：(見下圖）　
X射線機頭及高壓發(fā)生器; 高壓控制柜 
圖象增強器---模擬或數(shù)字式 
工作平臺; 信號采集卡; 計算機; 圖象處理軟件 
閉路監(jiān)視系統(tǒng); 環(huán)境監(jiān)視器系統(tǒng); 報警式自動門等組成.
像采集基本知識:
視頻采集, 即將視頻轉換成PC機可使用的數(shù)字格式。
專業(yè)圖象采集卡是將視頻信號經過AD轉換后經過PCI總線實時傳到內存和顯存。
在采集過程中由于采集卡傳送數(shù)據(jù)采用PCI Master Burst方式圖象傳送速度高達33MB/S可實現(xiàn)攝像機圖像到計算機內存的
可靠實時傳送并且?guī)缀醪徽加肅PU時間
留給CPU更多的時間去做圖像的運算與處理。
圖象速率及采集的計算公式
幀圖像大小(Image Size)∶W×H(長×寬)---您必須首先了解∶需要采集多大的圖象尺寸?
顏色深度∶d(比特數(shù))---希望采集到的圖象顏色(8Bit灰度圖象?還是16/24/32Bit真彩色?)
幀 速∶f---標準PAL制當然就是25幀非標準就沒準了！500-1000幀都有可能
數(shù) 據(jù) 量∶Q(MB)---圖象信號的數(shù)據(jù)量
采 樣 率∶A(MB)---采集卡的采樣率通過其產品手冊可知
計算公式∶ Q=W×H×f×d/8
判斷標準∶如果A>Q×1.2則該采集卡能夠勝任采集工作。 
視頻源∶
使用各種圖象采集卡首先需要您提供采集或壓縮用的視頻源。視頻源可以是∶
VCD影碟機、已有的錄像帶、攝錄機、LD視盤、CCD攝像頭、監(jiān)視器的視頻輸出等等。
● 一臺攝錄機和使用攝錄機錄制的錄像帶.
● 一臺盒式錄像機或磁帶錄像機和已錄制的錄像帶.
● LD光盤播放機LD光盤或VideoCD播放機和VCD
● 攝錄機或CCD攝像機
● 在工業(yè)影像中視頻源常常是CT、X光機、超聲、內窺鏡、甚至MRI核磁共振等等。
● 各種工業(yè)、軍事上的高速非標準視頻信號如每秒200幀、500幀、甚至上千幀…
(如用DALSA、PULNIX等高檔數(shù)字像機作為視頻源)
其它∶
●標準圖像源設備必須使用NTSC或PAL格式有復合視頻或S-Video甚至RGB輸出接口；
●非標準信號需要得到其行頻、場頻等信息可用示波器或微視測試卡。
●如需聲音采集則還需要